AUTOSTAR SIGMA

ITEM ESPECIFICAÇÕES TÉCNICAS MODELOS
RF TRF
SISTEMA ÓPTICO Sistema óptico com correção de cor infinita NIS45 (comprimento do tubo: 180 mm). X X
CABEÇA DE VISUALIZAÇÃO Cabeça Trinocular Inclinável Ergo, ajustável 0-35° inclinada, distância interpupilar 47 mm~78 mm; relação de divisão ocular: trinocular = 100:0 ou 20:80 ou 0:100. X X
Cabeça Trinocular Seidentopf, inclinada 30°, distância interpupilar: 47 mm~78 mm; relação de divisão ocular: trinocular = 100:0 ou 20:80 ou 0:100. O O
Cabeça Trinocular Seidentopf, inclinada 30°, distância interpupilar: 47 mm~78 mm; relação de divisão ocular: trinocular = 100:0 ou 20:80 ou 0:100. O O
OCULARES Ocular de plano de campo super amplo SW10X/25mm, dioptria ajustável. X X
Ocular de plano de campo super amplo SW10X/22mm, dioptria ajustável. O O
Ocular de plano de campo extra amplo EW12.5X/16mm, dioptria ajustável. O O
Ocular de plano de campo amplo WF15X/16mm, dioptria ajustável. O O
Ocular de plano de campo amplo WF20X/12mm, dioptria ajustável. O O
OBJETIVAS Objetiva Semi-APO do Plano LWD Infinito NIS45 (BF e DF) 5X/NA = 0,15, WD = 20 mm X X
10X/NA=0,3, WD=11 mm / 160 X X
20X/NA = 0,45, WD = 3,0 mm / 160 X X
Objetiva APO do plano LWD infinito NIS45 (BF e DF) 50X/NA = 0,8, WD = 1,0 mm / 160 X X
100X/NA = 0,9, WD = 1,0 mm X X
PORTA-OBJETIVAS Porta-objetivas sêxtuplo motorizado, reverso-para trás (com slot DIC). X X
CONDENSADOR Condensador LWD NA0.65. O X
ILUMINAÇÃO TRANSMITIDA Lâmpada halógena 12 V/100 W, iluminação Köhler, com filtro ND6/ND25. O X
Lâmpada S-LED de 3W, centro predefinido, intensidade ajustável. O O
ILUMINAÇÃO REFLETIDA Luz refletida Lâmpada halógena de 12 V/100 W, iluminação Köehler, com torre de 6 posições. X X
Casa de lâmpada halógena de 100 W. X X
Módulo de campo claro BF1. X X
Módulo de campo claro BF2. X X
Módulo de campo escuro DF. X X
Filtro ND6, ND25 integrado e filtro de correção de cores. X X
FUNÇÃO ECO Função ECO com botão ECO. X X
CONTROLE MOTORIZADO Painel de controle do porta-objetivas com botões. Duas das objetivas mais comumente usadas ​​podem ser definidas e alternadas pressionando apenas um botão. A intensidade da luz será ajustada automaticamente após alterar a objetiva. X X
FOALIZAÇÃO Focagem coaxial grossa e fina de baixa posição, divisão fina 1μm, faixa móvel 35mm. X X
MÁXIMA ALTURA DA AMOSTRA 76 mm X  
56 mm   X
PLATINA Estágio mecânico de dupla camada, tamanho 210 mm x 170 mm; faixa móvel 105 mm x 105 mm (alça direita ou esquerda); precisão: 1 mm; com superfície oxidada dura para evitar abrasão, a direção Y pode ser bloqueada. x X
Suporte de wafer: pode ser usado para segurar wafer de 2”, 3”, 4”. O O
KIT DIC Kit DIC para iluminação refletida (pode ser usado para objetivas 10X, 20X, 50X, 100X). O O
KIT POLARIZADOR Polarizador para iluminação refletida. O O
Analisador para iluminação refletida, giratório de 0 a 360°. O O
Polarizador para iluminação transmitida.   O
Analisador para iluminação transmitida.   O
OUTROS ACESSÓRIOS Adaptador de montagem C-mount de 0,5X. O O
Adaptador de montagem C-mount de 1X. O O
Capa plástica contra poeira. X X
Cabo de alimentação. X X
Corrediça de calibração 0,01 mm. O O
Prensa de amostra. O O
X–Item constitui a configuração padrão do equipamento                   O–Item opcional e disponível para uso futuro
CARACTERÍSTICAS
CONTRASTE DIFERENCIAL – DIC POR LUZ INCIDENTE PARA WAFERS, SOLDAS, MICROFISSURAS, METALURGIA E OUTRAS APLICAÇÕES.
POLARIZAÇÃO PARA TRABALHOS EM MINERAIS, POLÍMEROS, MATERIAIS BIRREFRINGENTES E ÁREAS DE COMBUSTÍVEIS SÓLIDOS.
CAMPO ESCURO – ENSAIOS METALOGRÁFICOS – ANÁLISES DE FALHAS E ÁREAS DE SEMICONDUTORES.
ULTRACAM - CÂMERAS DE VÍDEO CIENTÍFICAS
CÂMERAS DE VÍDEO – DIVERSOS MODELOS PARA METALOGRAFIA EM P&B OU COLOR – ENSAIOS EM I.R OU  ULTRA IMAGENS. SOFTWARES INTUITIVOS PARA ANÁLISES MORFOLÓGICAS E SOFTWARES DEDICADOS PARA METALOGRAFIA.
MIAS – ANÁLISES METALOGRáFICAS AUTOMATIZADAS
O SOFTWARE MIAS – METALURGICAL IMAGEM ANALISES SYSTEMS – OFERECE TODAS AS MEDIÇÕES E FUNÇÕES PARA RELATóRIOS PARA A METALÚRGICA – POROSIDADE, NODULARIDADE, FASES, TAMANHO DE GRÃO, INCLUSÕES, DE-CARBONIZAÇÃO, DENDRÍTICOS – BRAÇOS, ANÁLISES DE PARTÍCULAS, CLASSIFICAÇÃO DE GRAFITE, MEDIÇÃO DE ESPESSURA EM 2D, ENTRE OUTRAS. CADA AQUISIÇÃO DO SOFTWARE PERMITE UMA LICENÇA DE USO.